10hz-2mhz Halve geleider C-V kenmerken analysator Cv analysator Capaciteit Spanningsanalysator
Categorie:
Micro-Ohm-toetser
Specificaties
Markeren:
Inleiding
TH511 10Hz-2MHz halfgeleider C-V kenmerken analysator CV analysator
Een DC Bias Current Source is een elektronisch apparaat dat een constante en verstelbare gelijkstroom (DC) levert om elektronische componenten en schakelingen te biasen.Het wordt vaak gebruikt in verschillende toepassingen waar een DC-bias vereist is, zoals bij het testen, karakteriseren en kalibreren van elektronische apparaten
Kenmerken
• 10,1 inch capacitieve touchscreen, resolutie 1280*800, Linux systeem
• Dual-CPU-architectuur, de snelste testsnelheid van de LCR-functie is 0,56 ms
• Drie testmethoden: spottest, lijstscan en grafische scan (optioneel)
• Vier parasitaire parameters (Ciss, Coss, Crss, Rg) worden gemeten en weergegeven op hetzelfde scherm
• CV-curve scan, Ciss-Rg-curve scan
• Geïntegreerd ontwerp: LCR + VGS laagspanningsbron + VDS hoogspanningsbron + kanaalschakeling + PC
• Standaard 2-kanaal test, waarbij twee apparaten of dual-chip apparaten tegelijkertijd kunnen worden getest, het kanaal kan worden uitgebreid tot 6, de kanaalparameters worden apart opgeslagen
• Snel opladen, verkorteert de oplaadtijd van de condensator en maakt snelle testen mogelijk
• Automatische vertraging
• Hoge Bias: VGS: 0 - ±40V, VDS: 0 - 200V/1500V/3000V
• 10 bakken sorteren
Toepassingen
• halfgeleidercomponenten/vermogencomponenten
Parasitic capacitance test en C-V kenmerkende analyse van dioden, trioden, MOSFET's, IGBT's, thyristors, geïntegreerde schakelingen, opto-elektronische chips, enz.
• halfgeleidermateriaal
Wafer, C-V-kenmerkanalyse
• Vloeibare kristallen
Elastische constante analyse
• capacitieve elementen
Test en analyse van C-V-kenmerken van condensatoren, capacitieve sensortest en -analyse
Specificaties
| Model | TH511 | TH512 | TH513 | ||||
| Kanaal | 2 (4/6 Ch optioneel) | 2 | |||||
| Afbeelding | Afbeelding | 10.1-inch capacitieve touchscreen | |||||
| Verhouding | 0.672916667 | ||||||
| Resolutie | 1280*RGB*800 | ||||||
| Testparameter | Ciss, Coss, Crss, Rg. Vier parameters willekeurig selecteerbaar | ||||||
| Testfrequentie | Bereik | 1kHz-2MHz | |||||
| Precisiteit | 0.0001 | ||||||
| Resolutie | 10mHz 1.00000kHz-9.99999kHz | ||||||
| 100mHz 10,0000kHz-99,9999kHz | |||||||
| 1 Hz 100.000 kHz-999,999 kHz | |||||||
| 10 Hz 1,00000 MHz-2,00000 MHz | |||||||
| Testniveau | Spanningsbereik | 5mVrms-2Vrms | |||||
| Precisiteit | ± (10%*Installatiewaarde+2mV) | ||||||
| Resolutie | 1mVrms 5mVrms-1Vrms | ||||||
| 10mVrms 1Vrms-2Vrms | |||||||
| Vgs | Bereik | 0 - ±40V | |||||
| Precisiteit | 1%* Instellingsspanning+8mV | ||||||
| Resolutie | 1mV 0V - ±10V | ||||||
| 10mV ±10V - ±40V | |||||||
| Vds | Bereik | 0 - 200 V | 0 - 1500 V | 0 - 3000V | |||
| Precisiteit | 1%* Instellingsspanning+100mV | ||||||
| Uitgangsimpedantie | 100Ω, ±2%@1kHz | ||||||
| Berekeningen | Absolute afwijking Δ van de nominale waarde, percentage afwijking van de nominale waarde Δ% | ||||||
| Kalibratiefunctie | Open, kort, geladen | ||||||
| Gemiddelde | 1-255 keer | ||||||
| AD-omrekentijd (ms/tijd) | Snel +: 0,56 ms (> 5 kHz), snel: 3,3 ms, midden: 90 ms, langzaam: 220 ms. | ||||||
| Basisnauwkeurigheid | 0.001 | ||||||
| Ciss, Coss, Crss | 0.00001pF - 9.99999F | ||||||
| Rg | 0.001mΩ - 99,9999MΩ | ||||||
| Δ% | ± 0,000% - 999,9%) | ||||||
| Scannen van de lijst met multifunctieparameters | Vlekken | 20 plekken, het gemiddelde aantal kan worden ingesteld voor elke plek, en elke plek kan afzonderlijk worden gesorteerd | |||||
| Parameter | Testfrequentie, Vg, Vd, kanaal | ||||||
| Triggermodus | Sequentie SEQ: Na één trigger, meet op alle sweeppunten, /EOM/INDEX-uitgang slechts één keer. Stap: voert een sweeppuntmeting uit per trigger, elk punt geeft /EOM/INDEX, maar het resultaat van de lijstscanvergelijker wordt alleen bij de laatste /EOM weergegeven |
||||||
| Grafisch scannen | Scanschermen | Elke plek is optioneel, tot 1001 plekken. | |||||
| Resultaten weergeven | Meerdere bochten met dezelfde parameter en verschillende Vg; meerdere krommen met dezelfde Vg en verschillende parameters. |
||||||
| Afbeeldingsbereik | Automatisch realtime, vergrendeld | ||||||
| Coördinatieregel | Logaritmisch, lineair | ||||||
| Parameter | Vg, Vd | ||||||
| Triggermodus | Alleenstaande | Handmatige trigger één keer, voltooi een scan van de startpunt naar de eindpunt, en start een nieuwe scan met de volgende trigger signaal | |||||
| Continu | Oneindige lus scan van het begin tot het eindpunt | ||||||
| Resultatenopslag | Grafieken, bestanden | ||||||
| Vergelijkers | Kofferbak | 10Bin, PASS, FAIL | |||||
| Instelling van kofferbaksafwijking | Afwijking, percentage afwijking, uit | ||||||
| Kofferbakmodus | Tolerantie, continu | ||||||
| Kofferbakken tellen | 0-99999 | ||||||
| Bin Judgement | Voor elke bin kunnen maximaal vier grenswaarden voor parameters worden ingesteld. Het bijbehorende binnummer wordt weergegeven binnen het instelbereik van de resultaten van de vier testparameters.Als het maximum aantal bussen overschrijdtDe testparameters zonder bovenste en onderste limiet worden automatisch genegeerd. | ||||||
| Pass/FAIL-aanduiding | Voldoen aan Bin1-10, het PASS-licht op het voorpaneel is aan, anders is het FAIL-licht aan. | ||||||
| Gegevensopslag | 201 meetresultaten kunnen in partijen worden afgelezen | ||||||
| Bewaarbestand | Intern | Ongeveer 100 miljoen niet-vluchtige geheugen test setup bestand | |||||
| Externe USB | Test setup bestanden, screenshots, logbestanden | ||||||
| Toetsenbord slot | Vergrendelbare knoppen op het voorpaneel, andere uit te breiden functies | ||||||
| Interface | USB HOST | 2 USB HOST-interfaces, die tegelijkertijd met de muis en het toetsenbord kunnen worden verbonden en slechts één U-schijf tegelijkertijd kan worden gebruikt | |||||
| USB-apparaat | Universal Serial Bus socket, klein type B (4 contactposities); compatibel met USB TMC-USB488 en USB2.0, een vrouwelijke aansluiting voor het aansluiten van externe besturingen. | ||||||
| LAN | 10/100M Ethernet, 8 pinnen, twee snelheidsopties | ||||||
| Vervoerder | Gebruikt voor Bin-signaaluitgang | ||||||
| RS232C | Standaard 9-pin, gekruist | ||||||
| RS485 | Kan wijzigingen of externe RS232 naar RS485-modules ontvangen | ||||||
| Boots warm-up tijd | 60 minuten. | ||||||
| Inlaatspanning | 100-120VAC/198-242VAC Optie, 47-63Hz | ||||||
| Energieverbruik | met een vermogen van niet meer dan 50 W | ||||||
| Afmetingen (W*H*D) mm | 430*177*405 | ||||||
| Gewicht | 12 kg | ||||||
Aanhangsel
| Standaard | ||||||
| Naam van het accessoire | Model | |||||
| Testinrichting | TH26063B | |
||||
| Testinrichting | TH26063C | |
||||
| TH510 aansluitkabel voor het bedienen van armaturen | TH26063D | |
||||
| TH510 Testverlengkabel | TH26063G | |
||||
Verzend RFQ
Voorraad:
MOQ: