Halfgeleiderparameteranalyseur Dual CPU Max Spanning 40V LCR 0,56ms 10 Bins

TH511 CV-analysator voor halfgeleiders: dubbele CPU, max.spanning ±40V, LCR 0,56 ms, 10 Bins

1. Toepassing in het testen en karakteriseren: De DC Bias Current Source wordt veel gebruikt bij het testen en karakteriseren van elektronische componenten, zoals transistors, diodes,met een vermogen van niet meer dan 50 WHet maakt het beoordelen van het gedrag van het apparaat onder specifieke vertekeningsomstandigheden mogelijk en vergemakkelijkt de meting van parameters zoals winst, lineariteit, lekstroom en drempelspanning.Bovendien, wordt het gebruikt bij de kalibratie van meetapparatuur, waardoor nauwkeurige en traceerbare resultaten worden gewaarborgd.

Leer ons op Youtube.

Kenmerken

10.1-inch capacitieve touchscreen, resolutie 1280*800, Linux systeem

Dual CPU architectuur, de snelste testsnelheid van de LCR-functie is 0,56 ms

Drie testmethoden: spottest, lijstscan en grafische scan (optioneel)

Vier parasitaire parameters (Ciss, Coss, Crss, Rg) worden gemeten en weergegeven op hetzelfde scherm

CV-curve scan, Ciss-Rg-curve scan

Geïntegreerd ontwerp: LCR + VGS laagspanningsbron + VDS hoogspanningsbron + kanaalschakeling + PC

Standaard 2-kanaal test, die twee apparaten of dual-chip apparaten tegelijkertijd kan testen, kan het kanaal worden uitgebreid tot 6, worden kanaalparameters apart opgeslagen

Snel opladen, verkorteert de laadtijd van de condensator en maakt snelle testen mogelijk

Automatische vertraging

Bij gebruik van een van de volgende modellen:

Sorting van 10 bakken

Toepassingen

halfgeleidercomponenten/vermogencomponenten

Parasitic capacitance test en C-V kenmerkende analyse van dioden, trioden, MOSFET's, IGBT's, thyristors, geïntegreerde schakelingen, opto-elektronische chips, enz.

halfgeleidermateriaal

Wafer, C-V-kenmerkanalyse

Vloeibare kristalmateriaal

Elastische constante analyse

Capaciteitselement

Test en analyse van C-V-kenmerken van condensatoren, capacitieve sensortest en -analyse

Specificaties